|
產(chǎn)品簡介:
現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺是集光、機、電于一體的多功能實驗系統(tǒng)。系統(tǒng)覆蓋內容廣,可進行光通訊、信息控制、光電檢測中所用的信號源、光電探測器等各類器件原理、特性、性能參數(shù)的實驗,還可進行光的傳輸,光電傳感器的應用,光強分析,莫爾條紋計數(shù)等一系列光電實驗。
現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺實驗系統(tǒng)先進:采用全自動單色儀來實現(xiàn)光電器件光譜特性的連續(xù)測量,實驗結果直接在電腦上用圖形顯示;用CCD攝像法實現(xiàn)莫爾條紋的自動計數(shù)測微;用CCD攝像法將單縫衍射圖像采集處理后可實現(xiàn)衍射光強的二維和三維分布顯示。系統(tǒng)采用模塊組合的方式,不同的專業(yè)可以有不同的菜單。系統(tǒng)提供了較為開放的電路和光路,為學生更好的理解與掌握原理、正確使用光電器件奠定了基礎,讓學生通過實驗學會合理地選擇傳感器,掌握檢測的原理和方法。適用于光電信息專業(yè)、電子信息專業(yè)、計量測試專業(yè)等相關專業(yè)的教學實驗。
DB-GD01現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺主要有主機箱、單色儀與光源、實驗模板、實驗桌四大部分組成
一、主機箱:供電電源AC220V,50Hz。額定功率200W。
1、各種直流穩(wěn)壓電源和恒流源。
-12V~12V連續(xù)可調直流穩(wěn)壓電源。
0~5V連續(xù)可調直流穩(wěn)壓電源。
±12V、±5V直流穩(wěn)壓電源。
0~20mA連續(xù)可調恒流源
2、氣壓源:4~20KPa
氣壓4~20KPa可調(通過調節(jié)玻璃轉子流量計、旋鈕、氣壓輸出大小可調)。
3、顯示表:
電流表:DC20μA~200mA(量程四檔切換)
電壓表:DC200mV~20V(量程三檔切換),DC20V~2000V(量程三檔切換)。
光功率計:顯示表的顯示值×轉換系數(shù)mw,量程:1.80×轉換系數(shù),單位為: mw
光照度計:1999Lx
頻率/轉速表:f:0-9999Hz、 n:0~9999r/min
氣壓表:T(1標準大氣壓)~T+999KPa
溫控儀:PID位式調節(jié)儀:0~150oC
4、數(shù)據(jù)采集通訊接口:
標準RS232接口、USB接口
二、實驗模塊:
㈠、光電基礎實驗
1、在基礎試驗部分,重點分析光敏器件和光電傳感器的特性和應用場合。學生通過實驗應學會合理地選擇傳感器,掌握檢測的原理和方法。
2、該基礎實驗部分除了包括常用的光電探測器(光敏二極管、光敏三極管、光敏電阻、光電池等)實驗外,還包括熱釋電紅外傳感器實驗及光電指紋傳感器實驗。
熱釋電原理:
當已極化的熱電晶體薄片受到輻射熱時候,薄片溫度升高,極化強度 下降,表面電荷減少,相當于”釋放”一部分電荷,故名熱釋電。釋放的電荷通過一系列的放大,轉化成輸出電壓。如果繼續(xù)照射,晶體薄片的溫度升高到Tc(居里溫度)值時,自發(fā)極化突然消失。不再釋放電荷,輸出信號為零,見下圖
因此,熱釋電探測器只能探測交流的斬波式的輻射(紅外光輻射要有變化量)。當面積為A的熱釋電晶體受到調制加熱,而使其溫度T發(fā)生微小變化時,就有熱釋電電流。 ,A為面積,P為熱電體材料熱釋電系數(shù), 是溫度的變化率。
特點:當入射輻射為恒定輻射時,熱釋電探測器不響應,只能脈沖輻射工作。
㈡、單逢衍射光強分布實驗
我們知道,光沿直線傳播,當在光的前進方向上有一狹縫,且狹縫的寬度可以與光的波長比擬時,光在通過狹縫時發(fā)生衍射,產(chǎn)生明暗相間的衍射條紋。其中零級衍射條紋最亮,占衍射總能量的80%以上,其他各級越來越弱。本實驗采用波長為633nm的半導體激光器,光波通過一個寬度可調的狹縫后發(fā)生衍射,衍射條紋打在一個方形毛玻璃上,在毛玻璃后用一個CCD攝像機,將衍射圖像轉換成數(shù)字信號輸入計算機,在計算機上分析光強分布。
㈢、莫爾條紋計數(shù)實驗
光柵莫爾條紋原理:
如果把兩塊光柵距相等的光柵平行安裝,并且使光柵刻痕相對保持一個較小的夾角θ時,透過光柵組可以看到一組明暗相間的條紋,即為莫爾條紋。莫爾條紋的寬度B為:
B=d/sinθ
其中d為光柵距。
光柵刻痕重合部分形成條紋暗帶,非重合部分光線透過則形成條紋亮帶。光柵莫爾條紋的兩個主要特征是:
判向作用:當指示光柵相對于固定不動的主光柵左右移動時,莫爾條紋將沿著近于柵線的方向上下移動,由此可以確定光柵移動的方向。
位移放大作用:當指示光柵沿著與光柵刻線垂直方向移動一個光柵距Δd時,莫爾條紋移動一個條紋間距B,當兩個等距光柵之間的夾角θ較小時,指示光柵移動一個光柵距Δd,莫爾條紋就移動K·Δd的距離。K=B/D≈1/θ。B=D/2sinθ/2≈d/θ,這樣就可以把肉眼看不見的柵距位移變成清晰可見的條紋位移,實現(xiàn)高靈敏的位移測量。
本實驗采用CCD攝像法,與計算機軟件光強分析系統(tǒng)V1.0配套使用,可以準確地記錄莫爾條紋的位移數(shù)目,從而計算出光柵的位移。
㈣、全自動單色儀連續(xù)光譜特性實驗
本實驗單色儀光學系統(tǒng)采用C-T水平對稱式光路,焦距150mm,儀器采用電子細分技術,使掃描時最小步距角達到0.01nm,光柵臺備有1200L/mm光柵,可方便快捷的實現(xiàn)寬波段掃描。儀器備有單色儀狹縫和CCD接口,可以實現(xiàn)一機多用。光學系統(tǒng)原理圖如下:
圖中M1為平面鏡,M2、M3為球面鏡,G1為光柵,S1、S2分別為入縫和出縫。儀器還具有A/D轉換功能,將模擬信號轉換為數(shù)字信號供上位機采集。
1、單色儀主要技術指標:
焦 距:150mm
相對孔徑:f/4
掃描范圍:0-900nm
光譜范圍:200nm-1500nm
分 辨 率:0.4nm/mm(435.8nm處,縫寬10μm)
線 色 散:5.4nm/mm
準 確 度:0.25nm
重 復 性:0.1nm
最小步距:0.01nm
焦面尺寸:寬25mm ×高10mm
狹 縫:寬度10μm-3mm連續(xù)可調
光 柵 臺:光柵轉臺標準配置1200L/mm
儀器尺寸:長200mm×寬190mm×高160mm
重 量:5Kg
2、單色儀配套軟件
光電特性分析系統(tǒng)是一個基于Windows98系統(tǒng)以上的可執(zhí)行程序。該軟件采用RS232串口與單色儀通訊,功能強大,運行穩(wěn)定?芍苯涌刂茊紊珒x出射光波長,具有各種信號的采集和轉換,繪制各種特性的曲線等功能。
三、實驗內容:
1、單色儀標定實驗
2、光電基礎知識實驗
3、光開關實驗(透射式)
4、紅外反射式光電開關(光耦)
5、熱釋電紅外傳感器實驗
6、光源及光調制解調實驗
7、光電轉速傳感器轉速測量實驗
8、LED伏安(V/I)特性實驗
9、LED電光轉換(P/I)特性實驗
10、LED光強空間分布及半值角測量實驗
11、LED連續(xù)光譜特性實驗
12、LD伏安(V/I)特性實驗
13、LD電光轉換(P/I)特性實驗
14、LD光強空間分布及半值角測量實驗
15、LD連續(xù)光譜特性實驗
16、光電探測器暗電流測試實驗
17、光電倍增管暗電流測試實驗
18、光電倍增管陰極伏安特性測試實驗
19、光電倍增管陽極伏安特性及放大倍數(shù)測試實驗
20、APD雪崩光電二極管反向電壓測試實驗
21、APD雪崩光電二極管暗電流測試實驗
22、APD雪崩光電二極管倍增特性測試實驗
23、光柵莫爾條紋計數(shù)測微實驗
24、設計型綜合測量實驗
友情提示:
1、貨品驗收:閣下收貨時請檢查現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的貨品外觀,核實現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的數(shù)量及配件,拒收處于受損狀態(tài)的現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺;
2、質保:頂邦將為閣下提供現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺產(chǎn)品說明書內的質保條件和質保期,在質保范圍內提供對現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的免費維修,超出條件承諾時提供對現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的有償維修;
3、退換貨:閣下單方面原因導致的現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺選型錯誤或現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺購買數(shù)量錯誤,造成現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的退換貨要求,將不被接受;
4、貨期:現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的發(fā)貨期為參考值,如您需要了解現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的精確貨期,請與頂邦的銷售人員聯(lián)系;
5、如閣下對現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺有任何疑問,請致電:021-36334717 ,我們將由專業(yè)人士為您提供有關現(xiàn)代光電特性綜合實驗臺的咨詢。
找不到想找的產(chǎn)品?請點擊產(chǎn)品導航頁 |